揚(yáng)州揚(yáng)杰電子科技股份有限公司
長(zhǎng)期可靠性試驗(yàn)測(cè)試參考表
序號(hào) 試驗(yàn)項(xiàng)目
(test item) 試驗(yàn)條件
(condition) 參考標(biāo)準(zhǔn)
(reference) 實(shí)驗(yàn)時(shí)間
(time)
1 預(yù)處理
（pre-conditioning）
performed on surface mount devices (smds) prior to tc,ac, h3trb & iol/ptc stresses only.
jesd22-a113 1.temperature cycling:-40℃~60℃，5cycles；
2.bake:125℃,24h；
3.moisture soak:85±2℃，85±5%/168h；
4.reflow*3cycles:260℃,3cycles
time 5-60min
2 高溫反偏
（high temperature reverse bias） tjmax,100%vr jesd22-a108 1000hrs
3 間歇老化
（intermittent operational life ） △tj≥100℃,2min on/2min off mil-std-750
method 1037 15000cycles
4 高溫高濕反偏
(high-temperature high-humidity reverse bias) 85±2℃，85%±5%rh，
80%vr（max=100v) jesd22-a101 1000hrs
4 alt 高加速壽命實(shí)驗(yàn)
(highly accelerated
stress test) 130±2℃，85%±5%rh,or
110±2℃，85%±5%rh
80%vr（max=42v) jesd22-a110 96hrs or 264hrs
5 高溫高濕
（high-temperature high-humidity storage test） 85±2℃，85±5%rh mil-std-202f method-103b 1000hrs
5-1 物理破壞性分析
（dpa） after h3trb,visual inspection,x-ray,de-cap for weld,de-cap for die na 取h3trb實(shí)驗(yàn)后材料48h內(nèi)完成
6 溫度循環(huán)試驗(yàn)
（temperature cycling） 150℃（+15，-0）/15min,
-55℃（+0，-10）/15min jesd22-a104 1000 cycles
6-1 物理破壞性分析
（dpa） after tc,visual inspection,x-ray,de-cap for weld,de-cap for die na 取tc實(shí)驗(yàn)后材料48h內(nèi)完成
7 高溫儲(chǔ)存
(high temperature storage) 150℃（+10，-0） jesd22-a103 1000hrs
8 低溫儲(chǔ)存
（low temperature storage) -55℃ specification 1000h
9 高壓蒸煮
（auto-clave） 121℃±2℃,15 psig,100%rh jesd22-a102 96hrs
10 易焊性試驗(yàn)
（solderability） 235℃±5℃ j-std-002 3′
11 耐焊接熱
(resistance to solder heat) dip：270±5℃
smd: 260℃(+5,-0) jesd22-b106
jesd22-a111 dip：7′(+2, -0)
smd :10'
12 彎曲牢度
(bending strength) φ0.6mm~0.78mm w=0.5kg 90±5° mil-std-750
method 2036 3times
＞φ1.20mm w=2kg
13 終端牢度
(terminal strength) φ0.6mm~φ0.78mm w=1kg mil-std-750
method 2036 15'
＞φ1.20mm w=3kg
14 正向浪涌試驗(yàn)
(forward surge test） 8.3ms,single,half-wave mil-std-750
method 4066 5times
15 鹽霧試驗(yàn)
（salt spray test） 試驗(yàn)溫度：35±2℃，,氯化鈉鹽水濃度：5±0.1%，
ph值范圍：6.5-7.2，沉降率：1~2ml/80cm2.h gb/t 2423.17-2008 24h
16 靜電測(cè)試
(esd) hbm：100pf,1500ω ,gpp:4kv; others:2kv;
mm：200pf,0ω ,400v aec-q101-001/002 1cycle
17 高溫gate偏壓
（high temperature gate bias） tjmax,100%vgs jesd22-a108 1000hrs