talint edu是x射線talbot lau干涉儀的一種巧妙簡化形式,包括所有必要的硬件,以正確設(shè)置和微調(diào)干涉儀,并應(yīng)用相位步進程序,以獲得三種成像模式:吸收、相位對比度和暗場對比度。硬件的設(shè)計使得,在按照我們的說明組裝(預(yù)裝)套件后,莫爾條紋將很容易在您的探測器上看到。莫爾條紋圖案的進一步微。下文小編將為您詳細(xì)講解有關(guān)《優(yōu)勢供應(yīng)microworksx射線干涉儀talint edu》等內(nèi)容,歡迎您繼續(xù)閱讀,祝您生活愉快,謝謝~ talint edu是x射線talbot lau干涉儀的一種巧妙簡化形式,包括所有必要的硬件,以正確設(shè)置和微調(diào)干涉儀,并應(yīng)用相位步進程序,以獲得三種成像模式:吸收、相位對比度和暗場對比度。
硬件的設(shè)計使得,在按照我們的說明組裝(預(yù)裝)套件后,莫爾條紋將很容易在您的探測器上看到。莫爾條紋圖案的進一步微調(diào)可以通過使用g1和g2支架中的微米螺釘使光柵繞光軸進行角旋轉(zhuǎn),以直接的方式進行。
性能特點 由基板定義,基板是m6的試驗板,間距為25mm光柵是使用x射線liga技術(shù)制造的,該技術(shù)確保了高精度和高的高寬比(縱橫比)通過定位銷固定;對稱設(shè)置兩個光柵都可以通過調(diào)節(jié)測微螺釘繞光軸旋轉(zhuǎn)包含控制器
技術(shù)參數(shù) 產(chǎn)地:德國
長度:60厘米
寬度:15厘米
高度:20厘米
光柵開放區(qū)域
g0:15毫米
g1:70毫米
g2:70毫米
干涉儀的微調(diào):僅調(diào)整g1和g2繞光軸的旋轉(zhuǎn)角度
樣品放置:簡單的旋轉(zhuǎn)臺,可在光軸內(nèi)外擺動樣品
相位步進:閉環(huán)壓電級。30nm分辨率
邊緣能見度:通常>15%
g0和g2的占空比:0.55
g0和g2的基板:400µm石墨
g1占空比:0.5
g1基板:200µm硅
詳細(xì)參數(shù)
產(chǎn)品應(yīng)用
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