reflection dhm 是反射配置的全息顯微鏡。它們是測量全反射和部分反射物體的理想選擇。它們能夠處理低反射界面（反射率低至1%以下），是對各種樣品進行準(zhǔn)確光學(xué)形貌測量的理想儀器。 性能特點 下面文章將為您具體講解下《優(yōu)勢供應(yīng)lynceetec全息顯微鏡reflection dhm》等內(nèi)容，還請感興趣的繼續(xù)閱讀了解一下，謝謝!
reflection dhm 是反射配置的全息顯微鏡。它們是測量全反射和部分反射物體的理想選擇。它們能夠處理低反射界面（反射率低至1%以下），是對各種樣品進行準(zhǔn)確光學(xué)形貌測量的理想儀器。
性能特點
高采集率和易用性實現(xiàn)快速常規(guī)檢查、自動化工業(yè)質(zhì)量控制以及創(chuàng)新的研發(fā)應(yīng)用，尤其是動態(tài)觀測dhm與可選的頻閃模塊和用于mems分析和反射率分析的后分析軟件兼容每個dhm都可以用自己的結(jié)構(gòu)來固定，或者只作為一個頭，安裝在其他結(jié)構(gòu)或生產(chǎn)線上dhm可與多種可選的電動載物臺兼容它有能力和靈活性為您提供定制和oem系統(tǒng)
選型指南
有三種可用配置，由波長的數(shù)量和組合定義：
r-1000系列：單激光源
r-2100系列：雙激光源
r-2200系列：三個激光源
技術(shù)參數(shù)
產(chǎn)品：瑞士
配置：單激光源
特異性：單波長
測量模式：單波長
分辨率：亞納米
測量：實時
精度（通過在30次測量中對1個像素進行時間標(biāo)準(zhǔn)偏差來證明）：0.15nm
垂直分辨率（定義為精度的兩倍）：0.30nm
重復(fù)性（通過在sic參考鏡上進行30次重復(fù)性測量的一sigmarq值來證明）：0.01nm
垂直測量范圍（無任何掃描）：連續(xù)結(jié)構(gòu)可達200μm
帶銳邊臺階的高度（取決于激光源和工作波長）：max. 333 nm
產(chǎn)品參數(shù)
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