近場掃描顯微鏡（snom）的關(guān)鍵要素是沿著樣品非常近的距離（通常小于10 nm）掃描的小孔徑（在我們的情況下為激光照明光纖探針的一端）。
目的探針-樣品距離調(diào)節(jié)方法取決于近場探針末端與樣品之間的剪切力檢測[1]?；诩羟辛Φ南到y(tǒng)允許同時進行剪切力和近場成像，包括用于透明樣品的透射模式，用于不透明樣品的反射模式和用于獲得樣品附加特征的發(fā)光模式。
獲取有關(guān)表面信息的非光學(xué)方法的核心思想是使用石英音叉的響應(yīng)與表面相互作用，該響應(yīng)連接到光纖。借助于外部進給元件，可在橫向振動中激發(fā)系統(tǒng)的光纖石英，從而提高石英共振頻率。使用進一步的壓電效應(yīng)：在存在機械振蕩的情況下，石英的電輸出具有電壓響應(yīng)，該電壓響應(yīng)用作有關(guān)纖維振蕩幅度的信息信號。
snom的發(fā)光模式與剪切力顯微鏡同時實現(xiàn)，而剪切力顯微鏡又通過以下方式實現(xiàn)。壓電驅(qū)動器通過石英音叉激發(fā)光纖探頭的初始振幅。石英的合適輸出值為a o。接近樣品表面后，光纖探針振蕩的振幅達到某個設(shè)定值，石英輸出達到值a。之后，通過反饋系統(tǒng)在保持該值的情況下進行樣品表面掃描。
在掃描下，樣品被纖維探針照亮，并且通過物鏡和陷波濾光片的樣品光被引導(dǎo)到光電倍增管上。
references
appl. phys. lett. 60, 2484 (1992).