關(guān)于有機(jī)薄膜相關(guān)的分析表征技術(shù)，我們可以提供下列技術(shù)和商品化的儀器，供您參考。
一、 cam200（光學(xué)接觸角儀）
用于測(cè)量表面和薄膜的清潔性、表面涂層的質(zhì)量、接觸角、潤(rùn)濕性能、表面自由能等。
二、 bam（布儒斯特角顯微鏡）
bam是一種很經(jīng)濟(jì)的界面表征技術(shù)，不僅可以用于固態(tài)界面的表征還能用于表征液態(tài)界面。與熒光顯微鏡相比，除了非侵入性外，bam技術(shù)的主要優(yōu)點(diǎn)在于不需要在所研究的材料上使用任何熒光探針就可以直接觀察空氣/水界面或介電基底上的超薄膜。易于與lb槽安裝在一起，實(shí)現(xiàn)一體化操作。
三、 irras（界面反射紅外光譜儀）
能夠測(cè)量液體、固體表面單分子層的紅外光譜信息?？焖俸秃?jiǎn)便的利用反射紅外光譜分析漂浮和固體表面的單分子層的分子取向和結(jié)構(gòu)信息。創(chuàng)新的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)是原位紅外光譜分析技術(shù)上的新突破。不需要額外的、繁雜的反射鏡和透鏡就能使紅外光束照射到界面上。在支架的一端是光度計(jì)，另一邊是檢測(cè)器。集成的軟件使在液體界面（如特定的表面壓下）和固體界面上獲取光譜的操作十分簡(jiǎn)單。
四、 nkd（薄膜分析系統(tǒng)）
nkd7000/ 8000系列薄膜分析系統(tǒng)的分光型薄膜分析儀，特別適合有機(jī)薄膜方面的分析測(cè)試。它通過對(duì)薄膜和基片的透射光譜和反射光譜的測(cè)量，并利用專業(yè)成熟的分析軟件求得薄膜和基片的折射率（n）、吸收系數(shù)（k）和厚度（d）。所測(cè)薄膜包括多層薄膜。主要應(yīng)用：光學(xué)涂層；半導(dǎo)體加工；平板顯示器；數(shù)據(jù)存儲(chǔ)；光電器件；建筑和高附加值玻璃；包裝和裝飾材料
五、 minisims（小型二次離子質(zhì)譜儀）
minisims一個(gè)主要的特征是對(duì)表面或者薄膜的局部區(qū)域進(jìn)行原位分析（靜態(tài)sims）。僅需數(shù)秒（而非數(shù)分鐘），掃描聚焦探測(cè)光束（成像sims）生成一個(gè)表面成分圖。隨后的分析通過順序的刻蝕表面而顯示表層下面變化的組成（動(dòng)態(tài)sims）。所有這些可在只需少量或不需任何樣品制備的情況下操作成功，并且靈敏度高，分析時(shí)間少。
★應(yīng)用范圍及優(yōu)勢(shì)：
☆單分子層表面信息 ☆化學(xué)組分快速成像
☆各種元素的檢測(cè) ☆薄膜動(dòng)態(tài)（深度）分析
☆有機(jī)物質(zhì)鑒定 ☆臺(tái)式設(shè)計(jì)，移動(dòng)方便
☆高靈敏度分析 ☆經(jīng)濟(jì)實(shí)用，操作簡(jiǎn)單
六、 qcm（石英天平分析儀）
研究薄膜或涂層與氣體或液體的吸附和反應(yīng)，薄膜的電性能（包括電阻、電感、電容等），獲得薄膜或涂層的質(zhì)量、反應(yīng)動(dòng)力學(xué)、剛性、彈性模量、粘性模量、本體粘度、薄膜厚度和密度。重要應(yīng)用包括：生物、醫(yī)藥、化學(xué)、自組裝、薄膜沉積、聚合物等。